淺析OPGW光纜生產中的光纖特性變化

前言

光纖截止波長、模場直徑、色散、數值孔徑等參數取決于光纖折射率分布和幾何尺寸，在光纜生產過程中這些參數基本保持不變。但由于光纖受力后會產生光彈性效應，導致折射率變化，所以理論上光纖性能也不是恒定不變的。如光纖衰減、強度以及老化等問題都與光纜生產工藝以及光纜材料有關。在光纜生產過程中會有殘余應力存留于光纖中，在高溫、高濕、低溫環(huán)境中，如果光纜生產工藝不合理，光纜材料析氫等問題都會導致光纖衰減和強度特性下降，嚴重影響光纜使用壽命。本文簡要分析了在OPGW光纜生產過程中，光纖特性可能發(fā)生的變化。

關鍵詞：OPGW光纜；光纖篩選；強度；老化。

Abstract

Optical fiber cutoff wavelength, mode field diameter, dispersion, numerical aperture are decided by the optical fiber refractive index distribution and the geometry size, these parameters maintain invariable basically in the cable production process. However, the force will be formed fiber photoelastic effect, leading to refractive index changes, so in theory, optical fiber performance is not constant. Such as optical fiber attenuation, intensity and aging concerns with the cable technique of production as well as the cable material. In the cable manufacturing process will be retained stress in the optical fiber, in high temperature, high humidity, low temperature environment, if the cable production process is unreasonable, cable materials precipitation hydrogen and other issues will cause the optical fiber attenuation and the intensity characteristic drops, and seriously affect the cable lifetime. This paper analyzes the production process in the OPGW cable, the change which the optical fiber characteristic possibly occurred.

Key words：Optical Fiber Composite Overhead Ground Wire; optical fiber filtering; intensity; optical fiber aging.

一、光纖篩選后強度

光纜廠使用的所有合格的光纖，在光纖廠都會經過100kpsi（約860g）的強度篩選，但是在光纜生產過程中仍然會出現在低于篩選應變值的情況下，光纖發(fā)生斷裂。這說明通過篩選的光纖其最低強度低于篩選應變值。另外，光纖在儲存、光纜生產過程中都會受到環(huán)境影響而導致強度下降。

光纖篩選后光纖最小強度取決于光纖初始裂紋分布和篩選張力卸載時間t_u，卸載時間t_u越短，光纖最小強度越高，反之光纖最小強度就越低，見圖1。因此，光纜廠在使用光纖前不可再次對其進行篩選。

在光纖生產企業(yè)，我們以400kpsi的高張力，對未經篩選的100km光纖進行試驗，負載施加和釋放速率保持在400kpsi/s，試驗環(huán)境為20℃，60%相對濕度。試驗中，在光纖負載釋放階段發(fā)生了13次斷裂，最小斷裂強度為147kpsi，即篩選幸存光纖的最小強度僅有篩選強度的37%。

按此計算，100kpsi應變篩選后的光纖，最低強度只有37kpsi，即318g。當然，高張力篩選試驗的結果對100kpsi的低張力篩選或許問題沒那么嚴重，但是分析說明負荷釋放速度低時，會導致裂紋繼續(xù)擴大，使篩選后的光纖強度大幅度下降，導致光纖在光纜生產過程中，在低于篩選張力的情況下發(fā)生斷裂。

因此，光纜廠家不可以光纖篩選張力作為光纖強度的驗收標準，尤其是在光纜生產工藝控制中，應考慮到篩選后的光纖強度將減小。

二、光纖儲存環(huán)境

光纖應在避光、干燥、低溫的環(huán)境中存放，長時間高溫、潮濕的環(huán)境會降低光纖的疲勞因子值，將使光纖的最小強度降低。

根據光纖在不同環(huán)境條件下測試的斷裂強度分布數據，低溫、真空（液氮）環(huán)境下光纖具有很高的斷裂強度，但在室溫環(huán)境中光纖強度大幅度降低。

光纖長度方向分布著非常小的物理缺陷或微裂紋，這種光纖的臨界斷裂常常發(fā)生在受到潮濕、塵埃、化學物質作用的條件下，光纖涂層旨在減小這些消弱光纖強度的作用。在理想惰性環(huán)境條件下（低溫、濕度為零、高真空），任何裂紋都不會生長。僅當外界施加的應力增加到斷裂韌度時，斷裂才會發(fā)生。對非惰性環(huán)境下的光纖（高溫、潮濕、環(huán)境中有水分或化學物質），任何施加應力會使裂紋生長。由于SiO₂鍵發(fā)生水解，故它被稱為應力腐蝕。

由Griffith斷裂理論得知，斷裂應力σ與裂紋長度L的關系為：

σ=(2Er/πL)^1/2                     1式

式中E是楊氏模量，r是表面能。

用裂紋尖端的應力場表示應力強度因子K_I則有：

K_I=σ(πL)^1/2                     2式

將1式代入2式，可得到斷裂條件為：

K_k=(2πr)^1/2                      3式

K_k是應力強度因子的臨界值，稱為斷裂韌度。當裂紋應力強度因子K_I增加到K_k時，光纖上的微裂紋將會生長、擴展直至發(fā)生斷裂。

光纖在存放過程中，受到較強的UV輻射會使涂層材料產生UV降解反應，首先發(fā)生在涂料表面逐步向光纖內部發(fā)展，長期UV輻射可能導致光纖低溫損耗增加。因此在光纖存放和使用過程中應避免受到UV輻射。另外，光纖在著色后，可減小UV輻射涂層降解反應。

三、光纖著色及成纜過程受損

光纖在正式使用前需經過著色處理，在光纖著色過程中如果出現一段光纖顏色偏淡或完全未著色時，取樣品在顯微鏡下觀察一般可發(fā)現光纖涂層受損，引起這一現象的主要原因是清洗光纖著色模具和管道的溶劑中含有微小粉塵，著色過程中微小粉塵進入模具后堵塞模具，從而導致光纖顏色偏淡或完全未著色。同時，光纖過模具時的張力會突然上升，發(fā)現此情況時，因立刻剪斷光纖，清洗模具和管道后再繼續(xù)著色，否則會將強度低的光纖流入后工序。

因此，光纖著色工序中著色模具及顏料管道應清洗干凈，同時著色機周圍應保持較高的潔凈度。

在OPGW光纜造管過程中，光纖在放線架上的放線速度波動、光纖在盤上的排線質量不好、以及生產速度不穩(wěn)都會導致光纖跳舞輪頻繁抖動，將產生附加張力，可能使低強度光纖斷裂。另外，著色工序收線張力太小，在測試、搬運過程中光纖壓線，則光纖放線時會導致光纖斷裂。

OPGW光纜造管工藝中應產生一定的光纖余長，光纖在套管內是以一定的彎曲狀分布的。因此若光纖粘壁引起光纖微小彎曲，在測試光纖衰減時會發(fā)現損耗臺階。且此微小彎曲也可能導致光纖斷裂，光纖彎曲半徑與彎曲應力見下表1、圖2。

表1

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